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Neo与DMG配合使用，可对显示器件进行几乎 所有 必要角度的光谱测量。DMG系统通过超紧固的工业光纤耦合器（IFC）与Neo光谱仪相连，该光纤可承受较大外力，以避免因弯曲或日常使用致使光纤损坏。
Neo系统光谱仪将易用性和精确测量能力完美结合，采用超紧固的外壳设计。配备高端制冷CCD探测器，噪音低，动态范围大。是兼顾易用性、稳定性与高性价比的一款理想设备，能轻松集成到您的系统或生产流程中，这款针对显示器设计的Neo光谱辐射仪为特别的配置方案，辐射波长校准范围为370至380nm。
凭借特殊的固件功能，Neo即使在高亮度的条件下也能测量显示器。
Neo-DMG系统参数
| 参数项 | 参数值 |
|---|---|
| 光谱范围 | 380-780 nm |
| DMG 极角 | 0°-60° 或 0°-75°（取决于型号） |
| DMG 方位角 | 0-350° |
| 角度精度 | ≈0.5° |
| 0-350 度方位角下的光斑位置精度 | ≈2mm（在 0° 极角下测量） |
| 15 度极角切换速度 | ≈100ms |
| 45 度方位角切换速度 | ≈300ms |
| 亮度范围 | 无 OD 轮时为 0.0005-10,000cd/m²（通过延长积分时间可实现更低亮度测量），配备 OD 轮后范围可扩展 |
| 亮度精度 ¹ | ± 2 % |
| 色度精度 (x,y)¹ | ± 0.0015 |
| 非线性度 | <1% |
| 数据输出分辨率 | 可通过软件设置为几乎任意分辨率 |
| FWHM | ≈2.8nm |
| 滤光片 | 线性可变滤光片 |
| 波长精度 ² | +/- 0.06nm |
| 杂散光 | ≈0.05%（在 400nm 处测量，使用 455nm 截止滤光片和宽带光源） |
| 探测器 | 高端滨松（Hamamatsu）冷却探测器（S7031） |
| 暗噪声 (RMS) | ≈ 3 - 5 计数（16 位 ADC） |
| 信噪比 ³ | >1300:1 |
| OD 轮 + 快门 | OD 滤光片为可选配置 |
| Neo 积分时间 | 1.6ms – 30 分钟 |
| Neo CCD 冷却温度 | -10℃ |
| 通讯接口 | 高速 USB、RS232、以太网、触发接口 |
| 测量参数 | 光谱输出、辐射测量数据或颜色数据（流明、x,y、主波长 DWL、峰值波长 PWL、显色指数 CRI、相关色温 CCT 等） |
| 数据处理时间 | 15ms |
| Neo 尺寸（长 × 宽 × 高） | 详见机械尺寸图 |
| Neo 重量 | 5.3kg |
| DMG 尺寸（长 × 宽 × 高） | 详见机械尺寸图 |
| DMG 重量 | 9kg |
| 工作温度 | 10-35℃ |
| 电源输入 | 典型 15V DC（14.5-15.5V DC 范围），DMG 和 NEO 通用 |
| 功耗 | 典型 12W，最大 30W |
| 光纤连接 | 工业光纤连接器 |
