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SR-LEDW-5N分光辐射计、点式光谱仪、亮度计

产品时间:2022-11-15 09:45:27

简要描述:

本产品量程极为宽广,最低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度;最高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性,是目前行业内的领先产品,同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过最新搭载的FIX模式,实现了测定条件的自动化功能,从而大幅缩短了测定同一样品时的连...

详细介绍

本产品量程极为宽广,最低可测亮度低至0.0005cd/m²,可用于评价体现黑画面品质的超高对比度;
最高可测亮度高达5,000,000cd/m²,适用于评价超高亮度级LED的光学特性,是目前行业内的领先产品,
同时也是TOPCON SR系列产品中的旗舰机型。通过最新搭载的FIX模式,实现了测定条件的自动化功能,
从而大幅缩短了测定同一样品时的连续测定时间。本产品,不仅仅可应用于目前在市场上急剧扩张的
LED背光模组的设计与研发,同样适用于生产流水线上的高效率、高精度管理。

产品用途:


■ LED背光、LED照明器具的亮度・色度,以及色温度特性,显色性评价。
■ LCD、OLED等,显示器的亮度・色度,色温度特性等所有光学特性评价指标。
■ 车载头灯、尾灯等、LED照明器具的亮度・色度的高精度测定。
■ 作为光学特性评价探头,搭载于各类自动测量机台上。
■ 量程特别宽广,宽至0.0005~5,000,000cd/m²。
■ 搭载FIX模式,可大幅缩短生产线上的连续测定时间(和本公司原有产品比较,可缩短1/2时间)
■ 提升了灵敏度的均衡性能,从而能轻松测定LED芯片。
■ 装上照度接口(选配件)后,还能够测定照度(lx)。
■ 光谱波宽、半波宽5nm


 


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