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微显示器件面成像亮度计 XSP-3

产品时间:2022-11-15 09:36:05

简要描述:

产品描述:使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um产品用途:用于测量微显示均匀性光学参数...

详细介绍

产品描述:

使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um

产品用途:

用于测量微显示均匀性光学参数





 


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