膜厚测量系统

膜厚测量系统 sztpkj 2019-08-18T23:48:35+08:00

膜厚测量系统

膜厚测量系统

名称：膜厚测量系统
型号：光学NanoGauge C10323-02E
品牌：滨松
描述： C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。

产品描述：

C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体，因为这些物体会产生高强度的散射光。对于这些类型的物体，测量小面积可减少散射光，从而实现测量。