膜厚测量系统

膜厚测量系统 2019-08-18T23:48:35+08:00

项目描述

膜厚测量系统


膜厚测量系统
  • 名称:膜厚测量系统

  • 型号:光学NanoGauge C10323-02E

  • 品牌:滨松

  • 描述: C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。

产品描述:

C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。