膜厚测量系统 sztpkj 2019-08-18T23:48:35+08:00 项目描述 膜厚测量系统 名称:膜厚测量系统 型号:光学NanoGauge C10323-02E 品牌:滨松 描述: C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 产品描述: C10323型光学纳米膜厚测量系统是一款微观厚度测量系统。 在宏观层面上无法测量具有不规则表面的物体,因为这些物体会产生高强度的散射光。 对于这些类型的物体,测量小面积可减少散射光,从而实现测量。 相关项目 荧光寿命测量仪 画廊 荧光寿命测量仪 量子效率测试系统 画廊 量子效率测试系统