微显示器件面成像亮度计 sztpkj 2020-10-10T17:02:07+08:00 项目描述 微显示器件面成像亮度计 名称:微显示器件面成像亮度计 型号:XSP-3 品牌:ELDIM 描述:使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um 产品描述: 使用无尽镜头,可以测试1英寸以下显示器的面均匀性以及相关的缺陷检测,空间分辨率为1.5um 产品用途: 用于测量微显示均匀性光学参数 相关项目 曲面屏快速视角测试仪 画廊 曲面屏快速视角测试仪 高低温视角测试系统 画廊 高低温视角测试系统 面成像色度计 画廊 面成像色度计 快速视角测试仪CubeX-150 画廊 快速视角测试仪CubeX-150 椎光成像仪 画廊 椎光成像仪