张先生18028713007 |sales2@sztpkj.cn
深圳市通谱科技有限公司官网 Logo
  • 首页
  • 产品中心
    • 海洋光学
    • 滨松
    • ELDIM
    • 蓝菲光学
    • CRAIC
    • 通谱产品
  • 解决方案
  • 新闻资讯
    • 通谱新闻
    • 行业动态
    • 展会信息
  • 联系我们
滨松 sztpkj 2019-08-06T19:37:55+08:00

滨松


量子效率测试系统

荧光寿命测量仪

荧光寿命测量仪

膜厚测量系统

膜厚测量系统

产品中心

  • ELDIM
  • 滨松
  • 蓝菲光学
  • 海洋光学
  • CRAIC
  • 通谱产品

解决方案

  • 售后技术支持
  • 测试解决方案
  • 产品解决方案

新闻资讯

  • 通谱新闻
  • 行业动态
  • 展会信息

联系我们

深圳市龙岗区龙城街道龙飞大道333号启迪协信4栋1801-1802号

座机: 0755-28700504

手机: 18028713007 (张先生)

电邮: sales2@sztpkj.cn

网站: www.sztpkj.cn

版权所有 © 2019 深圳市通谱科技有限公司 备案号:粤ICP备19089080号-1